產品展示PRODUCTS
光致發光系列拉曼系統
1)Maple-II, Micro PL System具有顯微光致發光/低溫-光致發光及電致發光測量、可適用高精密光致發光測繪、到0.01nm為止的高空間分辨率、自動化:波長監測,濾波及激光器范圍等特點。
2)SC-100 ,Macro光致發光/PLE測量具有緊湊的模塊化設計及經濟的選擇、多激發源(可達到9)、單獨及光纖耦合半導體激光器輸入輸出、用戶自定義系統等特點。
3)SC-100FS,Macro PL/壽命測量具有時間分辨率單光子計數模塊、時間分辨能力:25ps/1ns(長距離模式)、簡便及精密的電壓監測、光致發光及熒光的脈沖以及CW源等特點。
產品參數:
  | Maple-II  | SC-100  | SC-100FS  | |
檢測范圍  | 200~5000nm  | 200~5000nm  | 200~5000nm(200-1600nm for Time)  | |
光譜分辨率  | 0.015nm/pixel 
  | |||
雜散光阻斷  | 5*10-6  | |||
輸入源  | 246-1064(laser combine up to 3 line)  | 246-1064(laser combine up to 9 wavelength)  | ||
探測器  | CCD/PMT/PD  | CCD/PMT/PD/MCP  | ||
自動化  | Laser line,power ,wavelength ,resolution polarization control by sw  | |||
共焦模塊  | Real confocal pinhole/slit  | X  | X  | |
物鏡  | X10~X100(266-1800nm)  | |||
束斑尺寸  | <1μm  | <50~100μm  | ||
低溫選項  | ~4k(77k)  | |||
上一篇: S-RAM-X拉曼系統
                      下一篇:LD-TS多光譜多光軸測試系統
                  



                              
